Investigation on the SEL Sensitive Depth of an SRAM Using Linear and Two-Photon Absorption Laser Testing

Faraud, E; Pouget, V; Shao, K; Larue, C; Darracq, F; Lewis, D; Samaras, A; Bezerra, F; Lorfevre, E; Ecoffet, R

URI: http://dx.doi.org/10.1109/TNS.2011.2172222
http://62.217.125.90/xmlui/handle/123456789/5347

Ημερομηνία: 2011

Εμφάνιση πλήρους εγγραφής

Αρχεία σε αυτό το τεκμήριο

Αρχεία	Μέγεθος	Μορφότυπο	Προβολή
Δεν υπάρχουν αρχεία που σχετίζονται με αυτό το τεκμήριο.

Αυτό το τεκμήριο εμφανίζεται στην ακόλουθη συλλογή(ές)

Δημοσιεύσεις Μελών Δ.Ε.Π.

Αναζήτηση DSpace

Σύνθετη Αναζήτηση

Αναζήτηση

Σε όλο το DSpace
Αυτή η Συλλογή

Ο Λογαριασμός μου

Στατιστικές

Προβολή Στατιστικών